X射线荧光分析仪EDX6000C
X射线荧光分析仪EDX6000C配置大面积石墨烯 chao 薄窗口的电制冷半导体SDD检测器、chao 近低损耗测试光路、chao 薄铍窗牛津光管激发光源、西门子PLC（单杯位、9杯位、12杯位、20杯位）kong zhi，多样品腔系统、真空和氦气二合一系统、样品自旋系统、仪器三重an quan fang hu 系统（探测器防扎功能、高压钥匙 bao hu 、样品盖 zi suo 功能）。仪器单样品腔及多样品腔进样两种模式，软件配套天瑞新研发成果XRF成份分析软件4.0版本和RoHS5.0版本智能版本软件，实现液体、固体一键测试功能，智能算法可 zi 动识别样品材质和自动选择相应曲线，真正的做到多杯位样品智能 zi 动检测。
X射线荧光分析仪EDX6000C技术参数
元素分析范围：氟（F）~ 铀（U）
分析检出限：zui di 达0.2ppm（轻基体）
分析含量：ppm ~ 99.99%
分析jing que 度：＜0.05%（含量＞96%以上样品的主元素多次重复性测量RSD值）
探测器能量分辨率：SDD探测器，≤129eV
X射线激发源：管压5~50Kv、管流0~1000uA
高压发生器：Spellman jin kou 高压
测试范围：大气、真空、氦气
样品进样系统：9杯位（带杯位自旋）、12杯位+单腔体、20杯位+单腔体（可选），采用PLC kong zhi
任意多个可自动匹配或选择的分析和识别模型
相互du li 的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围：15℃ ~ 30℃
电源：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：646（W）×578（D）×388（H）mm
样品腔尺寸：Φ340×64（H）mm
仪器重量：85KG
X射线荧光分析仪EDX6000C配置选择
1.自旋9杯位套餐（样品杯可自旋，减少样品均匀性误差，粉末压片等规则样品。只有9杯位可选择，不带单腔切换功能，样品杯内径φ35mm，外径φ42mm。
2.12杯位套餐（不可自旋，应用测试对象：粉末压片等规则样品，单样腔与多样腔可切换，样品杯内径φ35mm，外径φ42mm）
3.20杯位套餐（20杯位不可自旋，应用测试对像：塑料颗粒、液体等样品，单样腔与多样腔可切换，样品杯内径φ25mm）
