微焦斑X射线膜厚仪
微焦斑X射线膜厚仪相比普通版的膜厚仪采用了 geng 为 xian 进的高分辨率FAST SDD探测器，其分辨率 gao da 140EV,能wan mei 的将不同的元素准确解析，针对多镀层与复杂合金镀层的测量，有着不可比拟的you shi 。在准直器的选择上，EDX600 PLUS也有着较大的 you shi ，相较于普通的膜厚仪,它可以搭配的准直器 geng 小：0.1 *0.2mm, θ0.15mm; θ0.2mm；θ0.3mm等等。用 chao 小的准直器得到的chao 小光斑，让 geng 小样品的测量也变得游刃有余。
微焦斑X射线膜厚仪技术参数：
X射线装置：微焦斑W靶光管
多道分析器：DPP数字多道分析技术，分析道数4096道
zui 小测试宽度：0.1mm
样品观察：工业级 gao min 感摄像头，图像可放大30倍，实现微小样品清晰 ding wei
分析方法：FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法
an quan 性：平台的凸岀设计，开盖停止即 bao hu ，多重金属及铅玻璃防止辐射，保障用户 an quan
外型尺寸：497 (W) x427 (D) x468(H)mm
样品室尺寸：415 (W) x374 (D) x218(H)mm
平台移动范围：50mm