双摄广角大平台 X荧光镀层厚度膜厚仪 EDX-T
双摄广角大平台 X荧光镀层厚度膜厚仪 EDX-T是一款quan 新上照式X射线荧光分析仪，配置嵌入集成式多准直孔、滤光片 zi 动切换装置和双摄像头，不仅能展现测试部位的细节，也能呈现出高清广角视野；zi 动化的 X/Y/Z 轴的三维移动，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦 jing 准分析。
双摄广角大平台 X荧光镀层厚度膜厚仪 EDX-T 性能特点：
· 新上照式设计，可适应 geng 多异型微小样品的测试。
· 可变焦高精双摄像头，搭配距离补正系统，呈现全高清广角视野， geng 好地 man 足微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试 xu 求。
· du 立的高 jing 度伺服电机扩大XY 平台移动范围，可多点编程、网格编程、矩阵编程，自动完成客户多个产品及多个测试点的连续测量，提高测样效率。
· 自带数据校正系统， bao 证测量数据的 wen 定性。
双摄广角大平台 X荧光镀层厚度膜厚仪 EDX-T 应用 ling 域：
· 应用于电子电路镀层、芯片镀层、晶元镀层、金手指镀层、半导体器件镀层、 PCB 板镀层检测等。
