X荧光元素含量光谱分析仪
EDX 4500H X荧光元素含量光谱分析仪是利用XRF 检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si 、P 、S 、Al 、Mg 等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr 、Ni 、Mo 等重点关注的元素进行准确分析，并且测试时间短，较大提高了检测效率和工作效率。
X荧光元素含量光谱分析仪 性能特点：
· 高效chao 薄窗X光管。
· 针对合金的测试而开发的 zhuan 用配件。
· Fast-SDD 硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
· 低能X射线激发待测元素，对Pb、S 等微含量元素激发效果好。
· 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅度扩展测试的范围。
X荧光元素含量光谱分析仪 产品性能参数
产品型号： EDX4500H
产品名称：能量色散X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠 (Na) 到 铀 (U)
元素含量分析范围： ppm-99.99% (不同材质，分析范围不同)
同时分析元素： 性可测几十种元素
分析准确度：0.05%(含量高于96%以上的样品、21次测试 wen 定性)
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：125eV
管压：5KV-50KV
管流：50 μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压： AC110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35% - 70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
X荧光元素含量光谱分析仪 应用行业
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
