无损检测 X射线荧光镀层测厚仪
天瑞仪器专注XRF 镀层测量技术30余年
江苏天瑞仪器股份有限公司作为具有自主知识产 quan 的高科技企业，公司不仅拥有 guo 际一流的X荧光分析技术 ling 域的 zhuan 家队伍，一流服务标准和 xian 进的管理模式。同时，公司与 guo 内外相关 ling 域的 zhuan 业研究院所和企业保持着密切的合作关系，实时追踪 guo 际X荧光分析 ling 域 zui 前沿的理论和技术。依托 qiang 大的研发团队， quan 面的服务标准和 xian 进的管理模式，目前公司已被授予“ guo 家 you 秀民营科技企业”、“中 guo zui 具投资价值企业50强”、“江苏省高新技术企业”、“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”、“江苏省环境保护重金属 jian 测工程技术中心”、“江苏省软件企业”、“江苏省昆山市企业技术中心”、“江苏省昆山市产品质量监督检验所 RoHS 检测二室”等一系列荣誉称号。
无损检测 X射线荧光镀层测厚仪 高性价比测厚仪EDX600PLUS是一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行 jing 准检测，帮助企业准确核算成本及质量管 kong。
无损检测 X射线荧光镀层测厚仪 技术参数
尺寸规格
设计形式：台式仪器，测量盖向上开启
测量方向：从下至上
仪器重量：45kg
外型尺寸(mm)：497(W)×427(D)×468(H)
样品室尺寸(mm)：415(W)×374(D)×218(H)
X射线源
X射线管：微焦斑W靶射线管
X射线管高压、电流：jin 口 da 功率高压单元
准直器(孔径)：可选φ0.2mm,φ0.3mm,φ0.5mm,φ0.1*0.3mm,还可按要求定制其它规格
X射线检测
信号接收器：Fast-SDD大窗口探测器
分析方法：FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
同时检测镀层及元素：可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素
测量元素范围：13Al(铝)~92U(铀)之间的元素均可测量
检出限：金属镀层分析 zui 薄可0.0025μm
厚度范围：分析镀层厚度一般在0~120μm以内(每种材质有所不同)
厚度标准偏差：RSD<3%
含量测试范围：0.1%~99.9%
检测时间：5秒以上
性能特点：
· 采用Fast-SDD 探测器，其分辨率可140eV。
· 可搭配 geng 小准直器：0. 1*0.2mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm 等。
· 新的下照式设计，一键式的按钮，减少摆放样品时间。
· 新的光路系统，减少了光斑的扩散，实现了对 geng 小产品的测试。
· 搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算 法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲 面等)的异型测试面的 jing 准测试。
应用行业：
可 guang 泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等 ling 域。
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针对不同客户的不同 xu 求，能够 quan 程提供 zui zhuan 业的建议与服务，尽可能 man 足客户的所有 xu 求。
操作的便捷性
Zui 为快捷的放样， 一键测试，提高测试的效率。
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售后无忧
Quan guo 各地均有 du 立的售后服务中心，为客户提供 zui 快捷的售后。
