全自动微区膜厚测厚仪 EDX2000A
产品说明、技术参数及配置
EDX2000A 能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光 ding 位和 bao 护系统。
设计亮点
上照式设计，可适应 geng 多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统， man 足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试 xu 求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，提高测样效率。自带数据校对系统。
chao 高硬件配置
采用Fast-SDD探测器,可129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能 hen 好的保障信号输出和激发的 wen 定性,减少仪器故障率。
高 jing 度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,准确快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的 ding 位。
软件界面
人性化的软件界面，让操作变得 geng 加便捷。
曲线的中文备注，让您的操作 geng 易上手。
仪器硬件功能的实时监 kong ，让您的使用 geng 加放心。
应用行业
电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备、汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等
