X荧光分析仪器的种类

    现在X荧光分析仪器主要分为两大类,一是:波长色散X荧光光谱分析仪;二是:能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别,在对样品激发其元素的特征X射线时,两种仪器的设计原理是相同的,在对特征X射线进行探测时,波长波长色散X荧光光谱分析仪,是检测的特征X射线的波长,即,X射线的波长性;而能量色散X荧光分析仪器,检测的是特征X射线的能量,即,X射线的粒子性。两种仪器的设计结构,探测方法有很大的区别。天瑞仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器,就是采用了能量色散的原理设计制造。

XRF分析中的专用术语

1.精密度

定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说,精密度就是重现性(Reproducibility或Repeatability)。X荧光分析 的是和测量的时间有关的,测量的时间越长,则越高。 

2.重复性

定义为仪器测同一款样品的连续测试十或二十的相对标准偏差。

3.准确度

定义为各次测定值mi对于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,准确度也一定差。反之,准确度很差,精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性(Reliability)好,精密度和准确度都要求高。

4.误差

X荧光分析的误差往往是很难计算的,所以,通常情况下,把统计涨落引起的误差作为测量的误差。

5.检出限(Limit of detection)

          当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量,就称为检出限(或叫检出限)。这时候,测到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.测定检出,一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样(基体)的不同而不同。

6.计数统计误差

       在放射性物质的测量中,假设仪器稳定性、机械在现性可确保,由仪器机械产生的误差可以忽略不计,但计数统计误差还是不能消除。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值(N)的分布属于随机事件,其标准偏差由 N求出。 N就叫统计误差。时间越长,则相对偏差就越小,即就越高。

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XRF的五大优点

快速:一般测量一个样品只需要1~3分钟

无损:物理测量,不改变样品性质

:对样品可以分析

直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然

环保:检测过程中不产生任何废气、废水

采用XRF设备应用于有害元素测试中的:

1.分析样品无损、快速,针对未知样品可以快速分析;

2.可采用小型的XRF设备进行便携测试。

3.在保证工作曲线完善和样品前处理的情况下,其测试结果重复性好、准确度高。

4.多元素可同时测试得出结果,可测试元素二十多个以上;

5.可用于生产中的过程内部控制,测试可达到在线、速度快,快速反应生产线等特点。