EDX2000A能量色散X荧光镀层膜厚仪主要针对的电镀、化镀、热镀等镀层厚度和含量测试的光谱分析仪器。
仪器测试特点：无损，快速， jing 密度高，测试过程简单，人性化，样品测试部位图像电脑和仪器同步显示，可通过 XY 移动平台快速定 wei 和仪器一键测试按钮，实现对测试部位的快速测量。
EDX2000A能量色散X荧光镀层膜厚仪技术指标：
● 元素分析范围：钾（Al）到铀(U)
● 可同时分析多 24 个元素，5 层镀层
● 检出限：zui 薄可测试 0.005um
● 镀层厚度测试范围：0.005um—50um
● X/Y 平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)
● 平台定位 jing 度：0.05mm
● 测量时间：5s-60s
● 计数率：0-8000cps
● 变焦摄像头清晰范围：0-50mm
● 多次测量厚度重复性 RSD 可达 2%
● 长期工作 wen 定度 RSD 为 3%
● 测量示值误差范围：厚度＜1um 小于 10%；厚度≥1um,小于 5%
● 温度适应范围：15℃~30℃
● 输出电压 220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
硬件配置
● 微焦斑 X 光管
● FSDD 电制冷半导体探测器
● 信号检测电子电路
● XY 手动快速定 wei 平台
● 高清变焦工业摄像头
● 高低压电源
● 开放式 chao 大可视样品腔
● 手推式屏蔽 bao 护系统
● 微型准直孔
● 一键测试系统
● 纯元素板
● 标准样品校验片
● zhuan 业和人性化的 EDXRF for Thick 操作软件
● 品牌计算机及打印机
