大型箱体镀层厚度膜厚仪
大型箱体镀层厚度膜厚仪是一款 zhuan 门用于测量大型PCB板、箱体以及晶圆的 chao 大行程上照式X荧光测厚仪，搭配图纸输入系统以及外部图片输入，不仅能随心所欲的快速运动被测样品的任何区域，在微区摄像头的帮助下，也能 ji 快的 ding 位被测样品上 ji 微小的测试点，完成快速编程与测试。
大型箱体镀层厚度膜厚仪 性能优点：
1、 chao 大开放式样品腔搭配 quan 自动 chao jing 密大行程平台，XY移动范围：600mm×400mm。
2、可外部输入被测板材的图片或搭配外摄 quan 景摄像头。
3、搭配多种不同规格尺寸的准直器，可对应不同的测试场景。
4、高度140mm 的Z轴移动范围配合可变焦补正系统，可应对各种凹槽异型件。
5、配备70mm2 chao 大探测窗口，相比常规探测器，不仅分辨率 geng 高，计数率也显著增强，能为 chao 小测试点提供 geng wen 定的测试效果。
大型箱体镀层厚度膜厚仪 应用行业：
