X射线荧光镀层测厚仪 EDX-T30
EDX-T30是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款 quan 新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦准确分析。能 geng 好地 man 足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试 xu 求。
设计亮点：
quan 新上照式设计,可适应 geng 多异型微小样品的测试。可变焦高精双摄像头,搭配距离补正系统,呈现 quan 高清广角视野, geng 好地 man 足微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试 xu 求。 du 立的高伺服电机扩大XY平台移动范围,可多点编程、网格编程、矩阵编程,自动 wan 成客户多个产品及多个测试点的连续测量, da 大提高测样效率。自带数据校正系统, bao 证测量数据的 wen 定性。
应用方向：
分析 chao 薄镀层,如镀层≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等镀层;
测量chao 小样品,直径≤0.1mm
印刷线路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及电镀液分析
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
