双摄多功能自动化膜厚分析仪
双摄多功能自动化膜厚分析仪EDX-T30是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术，研发的一款新上照式X射线荧光分析仪，该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头，不仅能展现测试部位的细节，也能呈现出高清广角视野；自动化的 X/Y/Z 轴的三维移动，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦准确分析。能 geng 好地 man 足半导体、芯片及 PCB 等行业的非接触微区镀层厚度测试 xu 求。
双摄多功能自动化膜厚分析仪 设计特点：
● 可变焦高清双摄像头，广角+微区界面清晰显示样品全貌与测试点细节。
● 测量仓底部的开槽式设计，可测量面积大且扁平的产品，如大型印制电路板。
● 配置不同规格的准直器和滤光片，适用不同场景下产品的检测， man 足 geng 多测试 xu 求。
● 外置摇杆、便捷按键装置，放置测试产品后，操作相应按键即可快速完成测试。
● 高 jing 度可编程运行的X/Y样品台和Z轴升降系统，可 jing 准 ding 位和移动产品的测量点，实现点哪测哪，提高测试效率。
● 高安 quan 防护罩具备测试保护防呆功能，不仅利用光电感应实现开盖即停止测试功能，截断X射线的发射；还与样品平台实现联动，使样品平台弹出，放置测试产品。
双摄多功能自动化膜厚分析仪 应用行业：
● 分析 chao 薄镀层，如镀层≤0.01 μm的Au,Pd,Rh,Pt 等镀层；
● 测量 chao 小样品，直径≥0.1mm
● 印刷线路板上RoHS 要求的痕量分析
● 合金材料的成分分析以及电镀液分析
● 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层