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双摄广角大平台 X荧光镀层厚度膜厚仪是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术，研发的一款上照式X射线荧光分析仪，配置嵌入集成式多准直孔、滤光片zi动切换装置和双摄像头，不仅能展现测试部位的细节，也能...
天瑞EDX600Pro金属镀层测厚仪能兼顾元素成分分析、各种大小异型涂镀层、RoHS 指令的检测，实现多功能准确测试。
多点位编程X射线镀层厚度膜厚仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析.
晶圆镀Au/Si/Ti镀层厚度测量仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析.
铝塑膜Fe/NiP厚度测量仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析。
金属表面的镀层厚度测量仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析。
陶瓷触摸屏镍的厚度和磷的含量测试仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析。
电子元件铜镀镍镀锡厚度测厚仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析。
电子元件铜镀镍镀金厚度测量仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析。
电子元件铜镀镍镀银厚度膜厚仪是一款上照式多功能自动微区X荧光膜厚测试仪，有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能，还可有 hai 元素检测及轻元素成分分析.
X荧光光谱仪 无损镀层测厚仪对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。
金手指X射线镀层膜厚仪对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。
XYZ轴三维联动的X荧光镀层测厚仪对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。
上照式贵金属元素镀层测厚仪对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。
可编程X/Y平台X射线膜厚仪对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单 及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。
自动化上照式膜厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种大件、异形凹槽件、密集型多点 测试或自动逐个检测多点位的小部件。
双摄广角大平台 X荧光镀层厚度膜厚仪
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天瑞EDX600Pro金属镀层测厚仪
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多点位编程X射线镀层厚度膜厚仪
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晶圆镀Au/Si/Ti镀层厚度测量仪
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铝塑膜Fe/NiP厚度测量仪
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金属表面的镀层厚度测量仪
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陶瓷触摸屏镍的厚度和磷的含量测试仪
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电子元件铜镀镍镀锡厚度测厚仪
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电子元件铜镀镍镀金厚度测量仪
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电子元件铜镀镍镀银厚度膜厚仪
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X荧光光谱仪 无损镀层测厚仪
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金手指X射线镀层膜厚仪
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XYZ轴三维联动的X荧光镀层测厚仪
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上照式贵金属元素镀层测厚仪
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可编程X/Y平台X射线膜厚仪EDX2000A
可编程X/Y平台X射线膜厚仪EDX2000A
自动化上照式膜厚仪EDX2000A
自动化上照式膜厚仪EDX2000A