江苏能量色散X荧光光谱仪
能量色散X荧光光谱仪是利用XRF 检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对S、P、Si、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效 果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行准确分析，并且测试时间短，较大提高了检测效率和工作效率。
技术参数
Na~U
o测量元素范围：从钠(Na)到铀(U)
ppm-99.99%
元素含量分析范围：ppm-99.99% (不同材质存在一定差异)
0.05%
分析 jing 度：0.05%(含量高于96%以上的样品、21次测试 wen 定性)
30-200秒
o测量时间：30秒-200秒
o探测器能量分辨率为： zui 低可125eV
o 管压：5KV-50KV
o管流：50uA-1000uA
o 测量对象状态：粉末、固体、液体
o 输入电压：AC110V/220V
o 环境温度：15℃-30℃
o环境湿度：35%-70%
o 样品腔体积：φ320mmx100mm
o外形尺寸：660mmX510mmx350mm
o重量：65Kg
标准配置
o 高效 chao 薄窗X光管
o Fast-SDD探测器
o 数字多道技术
o 内置高清晰摄像头
o 自动切换型准直器和滤光片
o 自动 wen谱装置
o 三重 an 全 bao 护模式
o 可 kao 的整体钢架结构
o 90mmx70mm 的状态显示液晶屏
o 真空泵
能量色散X荧光光谱仪性能：
Chao 薄窗X 光管
采用高效 chao 薄窗X光管设计，透射效率ji大提升，关键指标da guo 际水平，实现 geng灵敏的元素响应。
探测系统
Fast-SDD 探测器，能量分辨率 zui 低可125eV, du 家数字多道处理技术，支持100,000CPS chao 高计数率，合金检测效率较传统设备明显提升，可 jing 准捕捉Si、P等轻元素特征谱线。
智能分析系统
新智能解谱引擎
创新解谱算法，实现多元素 jing 准识别，元素间干扰抑制率高，确保全元素分析 jing 度一致性。
动态测试补偿技术
多参数自适应校准系统，实时修正基体效应，消除元素间吸收/增强效应，复杂样品检测效果较佳。
创新工程设计
Quan 自动光路管理系统
智能切换8组准直器+6级滤光片组合，配置响应速度快，彻底告别手动调节。
真空环境自适应平台
Zhuan 利级气密结构设计，支持30秒快速建真空，检测范围延伸至 Na(11)~U(92) 元素。
可靠运行保障
稳谱系统
搭载新 wen 谱技术+数字 wen 谱装置，8小时连续工作谱漂移<0.5eV, 确保数据长期一致性。
信号处理单元
多层电磁屏蔽架构，ji 端工况下仍可纯净信号输出。
人性化交互界面
Quan 景测试过程 jian 测
高清工业相机，配合 du 立参数显示屏，实时显示管压/管流/真空度等多项关键参数。
智能诊断中心
内置多项自检程序，异常状态实时预警，设备维护明显效率提升。
应用行业：
合金检测、矿石分析、有害元素检测(RoHS、 卤素)、全元素分析。
