天瑞微聚焦X荧光测厚仪 膜厚仪 镀层厚度测量仪
天瑞微聚焦X荧光测厚仪 膜厚仪 镀层厚度测量仪高性价比、多功能型X荧光检测仪，一键测试按钮和高精密X/Y移动滑轨使得检测方便快捷；对不同产品大小及材 质，均可自由切换合适的准直器、滤光片进行准确测量。
天瑞微聚焦X荧光测厚仪 膜厚仪 镀层厚度测量仪技术参数：
设计形式：台式仪器，测量盖向上开启
测量方向：从下至上
仪器重量：45kg
外型尺寸(mm)：497(W)×427(D)×468(H)
样品室尺寸(mm)：415(W)×374(D)×218(H)
X射线源
X射线管：微焦斑W靶射线管
X射线管高压、电流：jin 口 da 功率高压单元
准直器(孔径)：多个准直器、滤光片自动 切换，除标配外可按要求 定制其它规格
X射线检测
信号接收器：Fast-SDD大窗口探测器
分析方法：FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
同时检测镀层及元素：可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素
测量元素范围：13Al(铝)~92U(铀)之间的元素均可测量
检出限：金属镀层分析 zui 薄可0.0025μm
应用范围：可以兼顾轻元素成分以及镀层厚度的测试，例如化学镍镀层中的磷含量与厚度
同时测试。同时能对各种微量元素的管 kong 需求。
厚度范围：分析镀层厚度一般在0~120μm以内(每种材质有所不同)
厚度标准偏差：RSD<3%
含量测试范围：0.1%~99.9%
检测时间：5秒以上
样品观测配置
样品照明：LED灯，下方垂直环绕照射(可调节亮度)
样品观察对焦：高分辨率彩色CCD变焦工业摄像头，沿初级X射线光束方向观察测量位置，带有经过校正的刻度和测量点指示的十字线，手动测距对焦
倍率：图像可放大倍数20x-160x,实现微小样品清晰 ding wei
样品移动平台：手动X/Y 高 jing 度移动平台
防护
操作环境温湿度：0℃~30℃,湿度≤70%
工作电源：交流220V±5V
平台的凸出设计，开盖停止 bao hu ，多重金属及铅玻璃防止辐射，保障用户 an quan。
