5月18日—19日，由中国计量科学研究院主办的波长色散X射线荧光光谱仪校准技术研讨会在昆山顺利召开，此次会议的召开是为进一步听取各方及厂商对《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》制订工作的意见。
会议邀请了行业知名学者、科研院所及该领域相关企业代表，就波长色散X射线荧光光谱仪技术发展趋势、进展、应用领域及校准技术等方面的问题进行了研讨。
会议由天瑞公司波谱产品线负责人黄冲主持，并由天瑞仪器总经理应刚致欢迎词，欢迎前来参会的老师及。
天瑞仪器总经理应刚致欢迎词
会议现场
研讨会上，意见征求互动环节现场气氛热烈，与会们针对《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》修订内容，从各个角度出发，进行了认真研讨，积极发表了自己的意见并提供了宝贵的建议。其中黄冲做了《波长色散 X 射线荧光光谱仪的企业校准方法介绍》的专题，详细介绍了天瑞仪器公司过去十年波谱研发过程中所总结的波谱仪器测试方法，对比了《JJG 810-1993 波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》和《ISO_TR 18231-2016.9300》各自优缺点，供各位参考。
相信本标准的修订，能有效促进该仪器的校准规范的升级和改进，继而能更好的为市场服务。